Надежный испытательный контроллер Multi TAP

Новый тестовый контроллер multi-TAP входит в сферу тестирования электроники, ориентированный на инженеров, которым требуется более высокая производительность JTAG-сканирования границ и надежное функциональное тестирование как при создании прототипов, так и при производстве.Устройство представляет собой конфигурацию с двумя портами и четырьмя TAP, предназначенную для сокращения времени настройки, повышения целостности сигнала и выживания в реальных условиях, что делает его универсальным обновлением для групп разработчиков, масштабирующих сложные платы.


Ключевые особенности:

Электрическая защита ±30 В на всех контактах для отказоустойчивого тестирования
Четыре настраиваемых JTAG TAP, подключенных к 20 контактам GPIO.
Скорость сканирования границ до 166 МГц для высокопроизводительных циклов испытаний
Улучшенная целостность сигнала за счет дополнительных путей заземления и последовательного согласования
Прочная, готовая к промышленному использованию сборка с гибкими возможностями монтажа и лицензирования.
На вершине его уровня находится защита: каждый контакт защищен до ±30 В, что снижает риск случайного замыкания или неправильного подключения разъемов, повреждающих инструменты или платы, что является повседневной проблемой на ранних этапах установки оборудования.Эта повышенная надежность распространяется и на механическую конструкцию, качество сборки промышленного уровня и множество вариантов монтажа для заводских цехов, сервисных помещений и полевой диагностики.

Качество сигнала является еще одним важным моментом.Двадцать выделенных контактов заземления и интегрированная последовательная оконечная нагрузка призваны поддерживать чистые формы сигналов даже в шумных лабораторных установках или производственных стойках с высокими электромагнитными помехами.Контроллер может достигать скорости граничного сканирования до 166 МГц, что делает его пригодным для современных плат с высокой плотностью размещения, где временные запасы ограничены и необходим быстрый доступ к тестовым данным.

Гибкость достигается за счет полностью настраиваемой распиновки.Инженеры могут назначить до четырех JTAG TAP или устройств ввода-вывода общего назначения на 20 доступных контактов, оптимизируя подключение без использования специальных адаптеров.Он также поддерживает тестирование в смешанном режиме, сочетая процедуры граничного сканирования JTAG с функциональными тестами, выполняемыми из GPIO.

Контроллер легко интегрируется с установленными средами тестирования и программирования, работая с инструментами анализа, выполнения, отладки и флэш-программирования, которые уже используются во многих средах разработки и производства.Он вписывается в существующие рабочие процессы, не требуя переписывания или повторной квалификации, что упрощает внедрение командами с устаревшими проектами.Сочетая возможности multi-TAP, более высокую скорость сканирования, надежную электрическую защиту и гибкое лицензирование, новый контроллер предназначен для широкого спектра задач — от проверки первого изделия и доставки платы до испытательных линий массового производства.Для инженеров, сочетающих критическую по времени отладку с надежностью производственного уровня, это компактное, но эффективное дополнение к испытательному стенду.