Две новые системы тестирования полупроводниковых приборов

Тестирование новых полупроводниковых устройств, таких как карбид кремния (SiC) и нитрид галлия (GaN), часто требует сложных установок, сборка и калибровка которых требует времени.Инженерам и исследователям нужны точные результаты при тестировании для разработки надежных продуктов.

Группа Microtest запускает две новые системы тестирования: Quasar200 и Pulsar600. Эти тестовые инструменты решают проблему сложной настройки с помощью технологии Plug-and-Play, что позволяет пользователям начать тестирование силовых полупроводниковых устройств без создания специальных испытательных стендов или выполнения сложной проводки.Это помогает лабораториям и инженерам экономить время при сборе надежных и повторяемых данных.

Quasar200 предназначен для тестирования силовых полупроводниковых приборов стандартного и среднего класса, изготовленных из кремния (Si), нитрида галлия (GaN) и карбида кремния (SiC).Он ориентирован на точные измерения постоянного и переменного тока, что делает его пригодным для лабораторных исследований, определения характеристик устройств и разработки технических характеристик.

Pulsar600 создан для испытаний сильноточных и мощных устройств, особенно для инверторов на основе карбида кремния и автомобильных систем.Он поддерживает испытания на короткое замыкание и стресс до 1000 А постоянного тока и более 10 000 А переменного тока, помогая инженерам проверять производительность и безопасность силовых модулей нового поколения, используемых в электромобилях и промышленных приложениях.

Системы измеряют, как полупроводниковые устройства работают при высоком токе и напряжении.Quasar200 создан для тестирования устройств на основе кремния, GaN и SiC, используемых в электронике и энергосистемах.Он выполняет быстрые и точные измерения постоянного и переменного тока с низким уровнем помех.Pulsar600 расширяет эту возможность для приложений с очень сильным током, таких как испытания автомобилей и инверторов, выдерживающих ток до 1000 А постоянного тока и более 10 000 А переменного тока.

Обе системы ведут подробные журналы аудита для отслеживания точности данных.Это позволяет исследователям и компаниям сопоставлять результаты лабораторных исследований с производственными испытаниями на уровне завода при разработке технических характеристик или сертификации новых устройств.

Безопасность встроена в обе системы.Они включают в себя закрытые зоны тестирования и защиту SocketSafe от ipTEST, которая изолирует питание при открытии оборудования или возникновении неисправностей.Розетки с низкой индуктивностью снижают электрические шумы, улучшая стабильность испытаний.


Ключевые особенности

Настройка «подключи и работай»: готовые к использованию системы тестирования, которые устраняют необходимость в специально изготовленных установках или паяных соединениях.
Широкая поддержка устройств: совместимость с устройствами из кремния (Si), нитрида галлия (GaN) и карбида кремния (SiC).
Высокая способность к току: поддерживает испытания сверхвысокими токами до 1000 А постоянного тока и 10 000 А+ переменного тока, подходит для инверторов SiC и автомобильных систем.
Точность измерения: точность ±0,1% для всех форм напряжения и тока.